設(shè)備特性
1、電性量測電路采用Kelvin法，可避免接觸電阻和線阻造成之測量誤差；
2、完善的報表打印和數(shù)據(jù)統(tǒng)計系統(tǒng)；
3、全系列LED測試系統(tǒng)解決方案，采用PC-based裝置，提供快速靈活之自動測試和人機交互接口；
4、用戶可任意定義之電壓電流源值，之測試項目之上限與下限，之任意安排量測值之輸出BIN位；
5、快捷的分級設(shè)定功能。
6、可分析藍(lán)光波長與黃色熒光粉合成之白光的坐標(biāo)位置
7、可量測波長λ=200~1100nm，光強度Iv=0~100000mcd CIE視函數(shù)探測器；
8、采用獨特的白光測量方法和光學(xué)器件，更先進的白光分色技術(shù)；
9、可測試共陰或共陽之任何封裝，單腳單晶、雙腳雙晶、三腳雙晶之Wafer、S或Lamp封裝，可測試紅外發(fā)射管和接收管；
10、量測標(biāo)準(zhǔn)可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NIST和Keithley；
11、可選擇積分球、視覺函數(shù)光探測器或分光光譜儀等光學(xué)量測感應(yīng)裝置；
12、實時CIE坐標(biāo)圖及落點顯示；
13、16位恒流恒壓源和數(shù)位量測電表之分辨率；
